Arşiv logosu
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
Arşiv logosu
  • Koleksiyonlar
  • Sistem İçeriği
  • Analiz
  • Talep/Soru
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
  1. Ana Sayfa
  2. Yazara Göre Listele

Yazar "Ikki, Salama" seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 1 / 1
Sayfa Başına Sonuç
Sıralama seçenekleri
  • [ X ]
    Öğe
    Error Bounds for 3D Localization and Maximum Likelihood Estimation of mm-Wave MISO OFDM Systems in the Presence of Hardware Impairments
    (Ieee-Inst Electrical Electronics Engineers Inc, 2022) Tubail, Deeb Assad; Ceniklioğlu, Büşra; Canbilen, Ayşe Elif; Develi, İbrahim; Ikki, Salama
    Millimeter-wave (mm-wave) multiple-input single-output (MISO) systems are expected to be extremely advantageous for the fifth generation (SG) cellular systems. In fact, these systems are considered key enablers of centimeter-level localization accuracy, even in the case of a single base station (BS). However, there are still fundamental issues that need to be addressed when applying mm-wave MISO systems to practical scenarios, namely the effects of hardware impairments (HWIs). In this study, the 3D localization accuracy of mm-wave MISO OFDM systems is investigated when there are HWIs at both the BS and the mobile station (MS). The localization is performed by estimating the downlink channel parameters of the line-of-sight (LOS) path using only a maximum likelihood (ML) estimator at the MS. We then transform these channel parameters into ones for localization. The Fisher information matrix (FIM) is employed to assess the accuracy of the estimation processes, considering also any non-LOS (NLOS) paths. The limit of localization is calculated in terms of the position error bound (PEB). Computer simulations demonstrate the destructive impacts of HWIs on the localization process. Moreover, it was proven that the effect of NLOS paths from unknown scatters on the localization process is related to the ratio between LOS and NLOS path gains.

| Nuh Naci Yazgan Üniversitesi | Kütüphane | Rehber | OAI-PMH |

Bu site Creative Commons Alıntı-Gayri Ticari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile korunmaktadır.


Ertuğrul Gazi Mahallesi, Nuh Naci Yazgan Yerleşkesi, Kocasinan, Kayseri, TÜRKİYE
İçerikte herhangi bir hata görürseniz lütfen bize bildirin

DSpace 7.6.1, Powered by İdeal DSpace

DSpace yazılımı telif hakkı © 2002-2025 LYRASIS

  • Çerez Ayarları
  • Gizlilik Politikası
  • Son Kullanıcı Sözleşmesi
  • Geri Bildirim